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本帖最后由 wangjiamin2014 于 2014-7-23 11:34 编辑
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存储器相关的问题是DSP 应用中非常普遍的问题。本文介绍KeyStone I 系列DSP 上一些存储器测试的方法。
1 KeyStone DSP存储器系统简介
KeyStoneDSP 存储器架构如图1 所示
对不同的DSP，存储器的大小可能不同，DSP 核和EDMA 传输控制器的个数也可能不同。表1比较了KeyStoneI 系列中常用的3颗DSP。
2存储器测试算法
本文介绍几种存储器测试算法，并讨论这几种算法的用途。
2.1数据测试
下面是数据测试的伪代码：
for（memory range under test）
fill the memory with a value;
for（memory range under test）
read back the memory andcompare the readback value to the written value
通常，这个测试会被执行几次，每次填充的值不一样。常用的填充值包括0x55555555，0xAAAAAAAA， 0x33333333， 0xCCCCCCCC， 0x0F0F0F0F，0xF0F0F0F0， 0x00FF00FF，0xFF00FF00FF00， 0xFFFFFFFF， 0。
这个测试可以用来检测数据比特粘连（bit-stuck）问题，例如，如果，
writtenvalue = 0， readbackvalue = 0x8，
表示bit3 粘连到1.
如果
writtenvalue = 0xFFFFFFFF， readbackvalue = 0xFFFFFFFE，
表示bit0 粘连到0.
如果能正确的写入并读出0x55555555（或0xAAAAAAAA），说明相邻的两个比特没有粘连；如果能正确写入并读出0x33333333（或0xCCCCCCCC），说明相邻的4 个比特没有粘连；如果能正确写入并读出0x0F0F0F0F（或0xF0F0F0F0），说明相邻的8 个比特没有粘连…
这个算法既可以用来测试数据总线连接，也可以用于测试存储器单元。当用于测试存储器单元时则每一个存储单元都需要写读所有的值，这将是比较耗时的测试；而用于测试数据总线连接时，只需要把所有的值都写读一遍就可以了（地址不限）。
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· 2014-7-31 21:13:19
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主流DSP存储器测试方法学习指南：TI KeyStone.pdf
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